色婷婷av一区二区三区四区五区,日韩毛片免费在线,日韩免费观看一码二码视频在线,日韩欧美一区二区自拍,97精品人妻一区二区三区竹菊,日韩精品有码在线观看,久久亚洲国产一区二区,麻豆av在线不卡免费,久久激情六月综合,日韩欧美中文字幕热

返回首頁 在線訂單 聯系我們

服務熱線:02158951091

產品分類
技術文章
當前位置:首頁 > 技術文章
MPOR測厚儀雙測量原理信息
點擊次數:277 更新時間:2025-09-05
磁感應法(適用于鐵基材料):當 MPOR 測厚儀靠近鐵基材料表面的涂層時,儀器內部的磁芯會產生磁場,該磁場穿過涂層與鐵基材料相互作用。由于涂層的存在,磁場的強度和分布會發生改變,儀器通過檢測這種磁場變化,依據磁感應原理并結合內置算法,精確計算出涂層的厚度。這種測量方法符合 DIN EN ISO 2178、ASTM D7091 等標準,特別適用于測量鋼鐵上較薄的涂層。
電渦流法(適用于非鐵基材料):對于非鐵基材料上的涂層測量,MPOR 測厚儀利用電渦流原理。儀器產生高頻交變磁場,當該磁場靠近非鐵基材料表面的涂層時,會在涂層和基材中產生電渦流。電渦流的大小與涂層厚度以及基材的電導率等因素有關,儀器通過檢測電渦流的變化,經過復雜運算得出涂層的準確厚度,該方法符合 DIN EN ISO 2360 標準。


上一篇 英國泰勒Surtronic DUO粗糙度儀表面測量信息 下一篇 API激光跟蹤儀應用信息